Lloyd W. Massengill: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (93)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Phoenix, AZ, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium - Neutron and alpha particle-induced transients in 90 nm technology

Narasimham, Balaji, Gadlage, Matthew J., Bhuva, Bharat L., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W., Holman, W. Timothy, Witulski, Arthur F., Xiaowei Zhu,, Balasubramanian, Anupama, Wender, Steve A.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 273 KB

english, 2008

2

Single-Event Transient Measurements in nMOS and pMOS Transistors in a 65-nm Bulk CMOS Technology at Elevated Temperatures

Gadlage, Matthew J., Ahlbin, Jonathan R., Narasimham, Balaji, Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W., Schrimpf, Ronald D.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 991 KB

english, 2011

3

The sensitivity of radiation-induced leakage to STI topology and sidewall doping

Nadia Rezzak, Michael L. Alles, Ronald D. Schrimpf, Sarah Kalemeris, Lloyd W. Massengill, John Sochacki, Hugh J. Barnaby

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.10 MB

english, 2011

4

Monte Carlo Simulation of Single Event Effects

Weller, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Warren, Kevin M., Sierawski, Brian D., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 851 KB

english, 2010

5

Single-Event-Hardened CMOS Operational Amplifier Design

Blaine, Raymond W., Atkinson, Nick M., Kauppila, Jeffrey S., Loveless, T. Daniel, Armstrong, Sarah E., Holman, W. Tim, Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.44 MB

english, 2012

6

Characterization of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in 130-nm and 90-nm CMOS Technologies

Narasimham, Balaji, Bhuva, Bharat L., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W., Gadlage, Matthew J., Amusan, Oluwole A., Holman, William Timothy, Witulski, Arthur F., Robinson, William H., Black, Jef

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 938 KB

english, 2007

7

[IEEE 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Anaheim, CA, USA (2012.04.15-2012.04.19)] 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Technology scaling and soft error reliability

Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., Holman, W. Timothy, Alles, Michael L., Loveless, T. Daniel

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.69 MB

english, 2012

8

Analysis of Parasitic PNP Bipolar Transistor Mitigation Using Well Contacts in 130 nm and 90 nm CMOS Technology

Olson, Brian D., Amusan, Oluwole A., Dasgupta, Sandeepan, Massengill, Lloyd W., Witulski, Arthur. F., Bhuva, Bharat L., Alles, Michael L., Warren, Kevin M., Ball, Dennis R.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 245 KB

english, 2007

9

[IEEE 2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology - Austin, TX, USA (2007.05.30-2007.06.1)] 2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology - Soft Error Considerations for Multicore Microprocessor Design

Robinson, William H., Alles, Michael L., Bapty, Theodore A., Bhuva, Bharat L., Black, Jeffrey D., Bonds, Alfred B., Massengill, Lloyd W., Neema, Sandeep K., Schrimpf, Ronald D., Scott, Jason M.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.62 MB

english, 2007

10

The Effects of Angle of Incidence and Temperature on Latchup in 65 nm Technology

Hutson, John M., Pellish, Jonathan D., Boselli, Gianluca, Baumann, Robert, Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Weller, Robert A., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 890 KB

english, 2007

11

Probabilistic Evaluation of Analog Single Event Transients

Kauppila, Amy V., Vaughn, Gregg L., Kauppila, Jeffrey S., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 213 KB

english, 2007

12

Application of a novel test system to characterize single-event effects at cryogenic temperatures

Vishwanath Ramachandran, Matthew J. Gadlage, Jonathan R. Ahlbin, Balaji Narasimham, Michael L. Alles, Robert A. Reed, Bharat L. Bhuva, Lloyd W. Massengill, Jeffrey D. Black, Christopher N. Foster

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.42 MB

english, 2010

13

Physical mechanisms of single-event effects in advanced microelectronics

Ronald D. Schrimpf, Robert A. Weller, Marcus H. Mendenhall, Robert A. Reed, Lloyd W. Massengill

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 324 KB

english, 2007

14

Transient Radiation Upset Simulations of CMOS Memory Circuits

Massengill, Lloyd W., Diehl-Nagle, Sherra E.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 1984

15

Application of RADSAFE to Model the Single Event Upset Response of a 0.25 $mu$m CMOS SRAM

Warren, Kevin M., Weller, Robert A., Sierawski, Brian D., Reed, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W., Porter, Mark E., Wilkinson, Jeffrey D., LaBel, Kenneth A.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 436 KB

english, 2007

16

Effect of Transistor Density and Charge Sharing on Single-Event Transients in 90-nm Bulk CMOS

Atkinson, Nicholas M., Ahlbin, Jonathan R., Witulski, Arthur F., Gaspard, Nelson J., Holman, W. Timothy, Bhuva, Bharat L., Zhang, Enxia X., Chen, Li, Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 834 KB

english, 2011

17

Charge Collection and Charge Sharing in a 130 nm CMOS Technology

Amusan, Oluwole A., Witulski, Arthur F., Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., Fleming, Patrick R., Alles, Michael L., Sternberg, Andrew L., Black, Jeffrey D., Schrimpf, Ronald D.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 978 KB

english, 2006

18

Single-Event Tolerant Latch Using Cascode-Voltage Switch Logic Gates

Casey, Megan C., Bhuva, Bharat L., Black, Jeff D., Massengill, Lloyd W., Amusan, Oluwole A., Witulski, Arthur F.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 192 KB

english, 2006

19

Single-Event Effect Mitigation in Switched-Capacitor Comparator Designs

Olson, Brian D., Holman, W. Timothy, Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., Fleming, Patrick R.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 480 KB

english, 2008

20

Angular Dependence of Single Event Sensitivity in Hardened Flip/Flop Designs

Baze, M. P., Hughlock, Barrie, Wert, J., Tostenrude, Joe, Massengill, Lloyd, Amusan, Oluwole, Lacoe, Ronald, Lilja, Klas, Johnson, Mike

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 942 KB

english, 2008

21

Circuit-Level Layout-Aware Single-Event Sensitive-Area Analysis of 40-nm Bulk CMOS Flip-Flops Using Compact Modeling

Kauppila, Jeffrey S., Haeffner, Timothy D., Ball, Dennis R., Kauppila, Amy V., Loveless, T. Daniel, Jagannathan, Srikanth, Sternberg, Andrew L., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.01 MB

english, 2011

22

Scaling Trends in SET Pulse Widths in Sub-100 nm Bulk CMOS Processes

Gadlage, Matthew J., Ahlbin, Jonathan R., Narasimham, Balaji, Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W., Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Vizkelethy, Gyorgy

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 622 KB

english, 2010

23

Parametric Variability Affecting 45 nm SOI SRAM Single Event Upset Cross-Sections

Loveless, Thomas Daniel, Alles, Michael L., Ball, Dennis R., Warren, Kevin M., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 755 KB

english, 2010

24

Behavioral Modeling Technique for TID Degradation of Complex Analog Circuits

Jagannathan, Srikanth, Herbison, Daniel R., Holman, William Timothy, Massengill, Lloyd. W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.12 MB

english, 2010

25

Integrating Circuit Level Simulation and Monte-Carlo Radiation Transport Code for Single Event Upset Analysis in SEU Hardened Circuitry

Warren, Kevin M., Sternberg, Andrew L., Weller, Robert A., Baze, Mark P., Massengill, Lloyd W., Reed, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Schrimpf, Ronald D.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 556 KB

english, 2008

26

Measurement and Analysis of Interconnect Crosstalk Due to Single Events in a 90 nm CMOS Technology

Balasubramanian, Anupama, Amusan, Oluwole A., Bhuva, Bharat L., Reed, Robert A., Sternberg, Andrew L., Massengill, Lloyd W., McMorrow, Dale, Nation, Sarah A., Melinger, J. S.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 643 KB

english, 2008

27

Single-Event Transient Pulse Propagation in Digital CMOS

Massengill, Lloyd W., Tuinenga, Paul W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 823 KB

english, 2008

28

Alpha-Particle and Focused-Ion-Beam-Induced Single-Event Transient Measurements in a Bulk 65-nm CMOS Technology

Gadlage, Matthew J., Ahlbin, Jonathan R., Bhuva, Bharat L., Hooten, Nicholas C., Dodds, Nathaniel A., Reed, Robert A., Massengill, Lloyd W., Schrimpf, Ronald D., Vizkelethy, Gyorgy

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 539 KB

english, 2011

29

Implications of Nuclear Reactions for Single Event Effects Test Methods and Analysis

Reed, Robert A., Weller, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Mendenhall, Marcus H., Warren, Kevin M., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 494 KB

english, 2006

30

Efficient power amplifiers for piezoelectric applications

Main, John A, Newton, David V, Massengill, Lloyd, Garcia, Ephrahim

Журнал:

Smart Materials and Structures

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 248 KB

english, 1996

31

Multi-Scale Simulation of Radiation Effects in Electronic Devices

Schrimpf, Ronald D., Warren, Kevin M., Ball, Dennis R., Weller, Robert A., Reed, Robert A., Fleetwood, Daniel M., Massengill, Lloyd W., Mendenhall, Marcus H., Rashkeev, Sergey. N., Pantelides, Sokrate

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.01 MB

english, 2008

32

A Probabilistic Analysis Technique Applied to a Radiation-Hardened-by-Design Voltage-Controlled Oscillator for Mixed-Signal Phase-Locked Loops

Loveless, T. Daniel, Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., Holman, W. Timothy, Casey, Megan C., Reed, Robert A., Nation, Sarah A., McMorrow, Dale, Melinger, Joseph S.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.14 MB

english, 2008

33

A Generalized Linear Model for Single Event Transient Propagation in Phase-Locked Loops

Loveless, Thomas Daniel, Massengill, Lloyd W., Holman, W. Timothy, Bhuva, Bharat L., McMorrow, Dale, Warner, Jeffrey H.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.22 MB

english, 2010

34

Pulsed Laser Single-Event Effects in Highly Scaled CMOS Technologies in the Presence of Dense Metal Coverage

Balasubramanian, Anupama, McMorrow, Dale, Nation, Sarah A., Bhuva, Bharat L., Reed, Robert A., Massengill, Lloyd W., Loveless, Thomas D., Amusan, Oluwole A., Black, Jeffrey D., Melinger, Joseph S., Ba

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1002 KB

english, 2008

35

Monte-Carlo Based On-Orbit Single Event Upset Rate Prediction for a Radiation Hardened by Design Latch

Warren, Kevin M., Sierawski, Brian D., Reed, Robert A., Weller, Robert A., Carmichael, Carl, Lesea, Austin, Mendenhall, Marcus H., Dodd, Paul E., Schrimpf, Ron D., Massengill, Lloyd W., Hoang, Tan, Wa

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 847 KB

english, 2007

36

Single-Event Transient Pulse Quenching in Advanced CMOS Logic Circuits

Ahlbin, Jonathan R., Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., Narasimham, Balaji, Gadlage, Matthew J., Eaton, Paul H.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2009

37

Differential Analog Layout for Improved ASET Tolerance

Kelly, Andrew T., Fleming, Patrick R., Holman, W. Timothy, Witulski, Arthur F., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2007

38

Directional Sensitivity of Single Event Upsets in 90 nm CMOS Due to Charge Sharing

Amusan, Oluwole A., Massengill, Lloyd W., Baze, Mark P., Bhuva, Bharat L., Witulski, Arthur F., DasGupta, Sandeepan, Sternberg, Andrew L., Fleming, Patrick R., Heath, Christopher C., Alles, Michael L.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 642 KB

english, 2007

39

Impact of Process Variations on Upset Reversal in a 65 nm Flip-Flop

Kauppila, Amy V., Ball, Dennis R., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W., Holman, W. Tim

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 760 KB

english, 2012

40

The Quad-Path Hardening Technique for Switched-Capacitor Circuits

Atkinson, Nicholas M., Holman, W. Timothy, Kauppila, Jeffrey S., Loveless, T. Daniel, Hooten, Nicholas C., Witulski, Arthur F., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W., Zhang, En Xia, Warner, Jeffrey H

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 804 KB

english, 2013

41

A New Error Correction Circuit for Delay Locked Loops

Maillard, Pierre, Holman, W. Timothy, Loveless, T. Daniel, Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.02 MB

english, 2013

42

Impact of Process Variations on SRAM Single Event Upsets

Kauppila, A. V., Bhuva, Bharat L., Kauppila, J. S., Massengill, Lloyd W., Holman, W. T.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 892 KB

english, 2011

43

Design Techniques to Reduce SET Pulse Widths in Deep-Submicron Combinational Logic

Amusan, Oluwole A., Massengill, Lloyd W., Bhuva, Bharat L., DasGupta, Sandeepan, Witulski, Arthur F., Ahlbin, Jonathan R.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 588 KB

english, 2007

44

[IEEE 2007 9th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2007) - Deauville, France (2007.09.10-2007.09.14)] 2007 9th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems - Effects of guard bands and well contacts in mitigating long SETs in advanced CMOS processes

Narasimham, Balaji, Bhuva, Bharat L., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W., Gadlage, Matthew J., Timothy Holman, W., Witulski, Arthur F., Robinson, William H., Black, Jeffrey D., Benedetto, Josep

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 599 KB

english, 2007

45

A Bias-Dependent Single-Event Compact Model Implemented Into BSIM4 and a 90 nm CMOS Process Design Kit

Kauppila, Jeffrey S., Sternberg, Andrew L., Alles, Michael L., Francis, A. Matt, Holmes, Jim, Amusan, Oluwole A., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 727 KB

english, 2009

46

Quantifying the Effect of Guard Rings and Guard Drains in Mitigating Charge Collection and Charge Spread

Narasimham, Balaji, Gambles, Jody W., Shuler, Robert L., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 638 KB

english, 2008

47

Effects of Guard Bands and Well Contacts in Mitigating Long SETs in Advanced CMOS Processes

Narasimham, Balaji, Bhuva, Bharat L., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W., Gadlage, Matthew J., Holman, W. Timothy, Witulski, Arthur F., Robinson, William H., Black, Jeffrey D., Benedetto, Josep

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 933 KB

english, 2008

48

Layout Technique for Single-Event Transient Mitigation via Pulse Quenching

Atkinson, Nicholas M., Witulski, Arthur F., Holman, W. Timothy, Ahlbin, Jonathan R., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 354 KB

english, 2011

49

Mitigation of Single-Event Charge Sharing in a Commercial FPGA Architecture

Kelly, Andrew T., Alles, Michael L., Ball, Dennis R., Massengill, Lloyd W., Ramaswamy, S., Haddad, Nadim F., Brown, Ronald D., Fleming, Patrick R., Chan, Ernesto, Ekanayake, Virantha, Kelly, Clinton W

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.30 MB

english, 2014

50

Heavy Ion Testing and Single Event Upset Rate Prediction Considerations for a DICE Flip-Flop

Warren, Kevin M., Sternberg, Andrew L., Black, Jeffrey D., Weller, Robert A., Reed, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Schrimpf, Ronald D., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 576 KB

english, 2009